С помощью модульного источника рентгеновского излучения iMOXS (модульный источник рентгеновского излучения IfG) можно легко расширить функциональные возможности сканирующего электронного микроскопа (SEM). Прибор iMOXS использует существующий детектор электронного микроскопа и может экономически эффективно использоваться в комбинации с любым из доступных микроскопов SEM, подключаясь с помощью соответствующего фланца. С помощью электронного источника микроскопа SEM и дополнительного источника рентгеновского излучения можно исследовать образцы посредством рентгенофлуоресцентного анализа и микроанализа на основе электронного луча с помощью только одного устройства. Используя достоинства обоих методов, можно с высоким разрешением исследовать элементы, присутствующие в малых концентрациях.
Характеристики:
- Модульная конструкция: рентгеновские трубки и оптические элементы можно легко адаптировать в соответствии с конкретными требованиями метрологический задачи
- Удобный интерфейс управления: измерительное положение легко устанавливается и контролируется визуально с помощью монитора SEM
- Простая установка на все существующие атомно-силовые микроскопы посредством разных фланцев
- Может использоваться для анализа структур размером до 10 мкм: высококачественная поликапиллярная оптика фокусирует рентгеновский луч на область малого размера.
- Проверка под поверхностью: прибор позволяет проводить исследование материалов, расположенных значительно ниже поверхности
Применение:
- Отображение микроскопа SEM: быстрый просмотр элементарного состава образца, поиск элементов, недоступных для просмотра, с помощью микроскопа SEM
- Анализ неисправностей, исследование дефектов материалов и усталостных дефектов
- Анализ материала непосредственно с помощью микроскопа SEM, например пропорций Si и Zn в сплавах алюминия
- Ретроспективный анализ
- Анализ элементов в следовых количествах в диапазоне ч/млн
- Определение наличия тяжелых элементов (Z > 18)
Reviews
There are no reviews yet.