Измерительные приборы серии XDL^® с приводными осями (дополнительное оборудование) и направлением измерения сверху вниз позволяют проводить серийные измерения в автоматическом режиме. Приборы имеют разные исполнения в части применяемых источников рентгеновского излучения, фильтров, диафрагм и детекторов, благодаря чему пользователь может выбрать рентгеновское устройство с конфигурацией, в точности соответствующей требованиям специфической метрологической задачи.

Характеристики:

• Благодаря наличию разных аппаратных компонентов рентгенофлуоресцентные приборы способны выполнять множество метрологических задач
• Также эти приборы можно использовать для испытания собранных печатных плат или деталей с индентированием, поскольку приборы обладают различными диапазонами измерения (до 80 нм)
• Приборы позволяют проводить автоматизированное серийное испытание с применением программируемого координатного стола XY и оси Z (дополнительно)
• Прибор является оптимальным решением для исследования очень тонких слоев с использованием дрейфового кремниевого детектора с высоким энергетическим разрешением (устройство XDAL)

Применение:

Измерение толщины покрытия

• Исследование покрытий печатных плат большого размера, в том числе гибких печатных плат (flex PCB)
• Исследование тонких проводящих и/или разделительных слоев печатных плат
• Исследование покрытий трехмерных компонентов
• Исследование покрытий из хрома, например пластиковых предметов с декоративным хромированным покрытием

Анализ материалов

• Испытание ванн для нанесения гальванических покрытий
• Анализ функциональных покрытий, применяемых в сфере производства электронных изделий и в полупроводниковой отрасли
• Анализ покрытий твердых материалов, таких как CrN, TiN или TiCN