Благодаря модульной конструкции приборы серии X-RAY 5000 можно легко интегрировать в производственные линии. Например, для исследования покрытий на подложках больших размеров, таких как оловянные листы, прибор X-RAY 5000 будет оптимальным решением. В зависимости от материала основы и покрытия можно выбрать соответствующий источник рентгеновского излучения, детектор и первичный фильтр, отвечающие требованиям конкретной задачи.

Характеристики

• Непрерывное измерение во время производственного процесса с подключением к технологической системе управления
• Универсальность: пригоден для использования как в вакууме, так и в воздушной среде, для поверхностей с температурой до 400 °C
• Прочная конструкция обеспечивает стабильное прецизионное измерение в сложных условиях окружающей среды
• Прибор особенно эффективен для измерения толщины покрытий и анализа материалов в изделиях с поверхностями больших размеров

Применение:

Измерение толщины покрытия

• Измерение толщины слоев из CIGS, CIS, CdTe и CdS в сфере солнечной энергетики
• Исследование тонких слоев толщиной всего несколько мкм на стальных полосах, металлической фольге и полимерных пленках

Анализ материалов

• Исследование состава слоев из CIGS, CIS, CdTe и CdS, применяемых в сфере фотоэлектрических технологий
• Исследование металлических покрытий в непрерывных производственных процессах
• Мониторинг технологических процессов в установках для металлизированного напыления и в гальванических установках