XDL / XDLM / XDAL

Измерительные приборы серии XDL® с приводными осями (дополнительное оборудование) и направлением измерения сверху вниз позволяют проводить серийные измерения в автоматическом режиме. Приборы имеют разные исполнения в части применяемых источников рентгеновского излучения, фильтров, диафрагм и детекторов, благодаря чему пользователь может выбрать рентгеновское устройство с конфигурацией, в точности соответствующей требованиям специфической метрологической задачи.

Характеристики:

  • Благодаря наличию разных аппаратных компонентов рентгенофлуоресцентные приборы способны выполнять множество метрологических задач
  • Также эти приборы можно использовать для испытания собранных печатных плат или деталей с индентированием, поскольку приборы обладают различными диапазонами измерения (до 80 нм)
  • Приборы позволяют проводить автоматизированное серийное испытание с применением программируемого координатного стола XY и оси Z (дополнительно)
  • Прибор является оптимальным решением для исследования очень тонких слоев с использованием дрейфового кремниевого детектора с высоким энергетическим разрешением (устройство XDAL)

Применение:

Измерение толщины покрытия

  • Исследование покрытий печатных плат большого размера, в том числе гибких печатных плат (flex PCB)
  • Исследование тонких проводящих и/или разделительных слоев печатных плат
  • Исследование покрытий трехмерных компонентов
  • Исследование покрытий из хрома, например пластиковых предметов с декоративным хромированным покрытием

Анализ материалов

  • Испытание ванн для нанесения гальванических покрытий
  • Анализ функциональных покрытий, применяемых в сфере производства электронных изделий и в полупроводниковой отрасли
  • Анализ покрытий твердых материалов, таких как CrN, TiN или TiCN

Отзывы

Отзывов пока нет.

Только зарегистрированные клиенты, купившие этот товар, могут публиковать отзывы.