Прибор FISCHERSCOPE HM 2000 — это профессиональное средство для измерения микротвердости и анализа механических свойств и упругости материала посредством наноиндентирования. Его прочная конструкция, компактный размер и устойчивость позволяют снизить влияние вибрации и температурных колебаний. Благодаря постоянным условиям измерения этот прибор является оптимальным решением для выполнения критически важных метрологических задач в научно-исследовательской сфере и промышленности. Более того, автоматический режим измерения позволяет выполнять серийные испытания.

Характеристики:

• Определение различных свойств полимерных и эластичных материалов, например твердости индентирования (преобразуется в твердость по Виккерсу), модуля индентирования и ползучести
• Измерение и расчет параметров материалов согласно стандартам DIN EN ISO 14577-1 и ASTM E 2546
• Благодаря модульной конструкции прибор является универсальным и позволяет адаптировать систему в соответствии с требованиями заказчика с возможностью вернуться к базовой конфигурации
• Инденторы: для измерения твердости по Виккерсу, Берковичу или с помощью карбидных шариков
• Измерительная головка подходит для измерения ползучести при постоянных температурах в течение нескольких часов
• Микроскоп с тремя уровнями увеличения для точного позиционирования измерительной точки
• Автономное высокоточное определение нулевого уровня с быстрым слежением
• Программируемый стол с регулировкой XY для автоматического исследования многочисленных измерительных точек
• С помощью высокоэффективного программного обеспечения WIN-HCU можно быстро оценить и в удобной форме отобразить результаты измерений

Применение:

• Определение характеристик поверхностей в научно-исследовательской сфере, например исследование покрытий из твердого хрома или керамики, наносимых на имплантанты в медицине
• Измерение твердости поверхностей сложной формы, например различных корпусов
• Серийное испытание изделий массового производства в гальваническом производстве
• Контроль качества печатных плат, например измерение сопротивления тонких покрытий из золота или контроль изоляционных слоев
• Измерение жесткости и прочности металлических пленок
• Измерение свойств, определяющих износостойкость, например твердости и прочности покрытий из PVD или CVD, а также покрытий из твердых материалов, таких как TiN, CrN и TiAIN
• Определение механических свойств, упругости и пластичности тонких алмазоподобных углеродных покрытий
• Измерение твердости и эластичности покрытий из краски, например финишных слоев краски в автомобильной промышленности
• Определение механических свойств тонких анодированных слоев (твердое анодирование)
• Проверка покрытий на устойчивость к образованию царапин и абразивному износу
• Автоматическое исследование нескольких образцов

Вспомогательное оборудование (дополнительно):

• Встроенная измерительная камера, предназначенная для исключения влияния внешних факторов, таких как потоки воздуха, создаваемые кондиционерами
• Активный демпфирующий стол для уменьшения влияния вибрации
• Нагреваемые внешние слои образца для проверки материала при повышенных температурах
• Атомно-силовой микроскоп (AFM): трехмерная запись поверхности образца и определение дополнительных параметров материала, например трения
• Стол с высокой точностью позиционирования: до < 500 нм
• Более мощный микроскоп с автофокусировкой и функцией автоматического распознавания объекта
• Держатели различных образцов