Измерительные приборы серии XDL® с приводными осями (дополнительное оборудование) и направлением измерения сверху вниз позволяют проводить серийные измерения в автоматическом режиме. Приборы имеют разные исполнения в части применяемых источников рентгеновского излучения, фильтров, диафрагм и детекторов, благодаря чему пользователь может выбрать рентгеновское устройство с конфигурацией, в точности соответствующей требованиям специфической метрологической задачи.
Характеристики:
- Благодаря наличию разных аппаратных компонентов рентгенофлуоресцентные приборы способны выполнять множество метрологических задач
- Также эти приборы можно использовать для испытания собранных печатных плат или деталей с индентированием, поскольку приборы обладают различными диапазонами измерения (до 80 нм)
- Приборы позволяют проводить автоматизированное серийное испытание с применением программируемого координатного стола XY и оси Z (дополнительно)
- Прибор является оптимальным решением для исследования очень тонких слоев с использованием дрейфового кремниевого детектора с высоким энергетическим разрешением (устройство XDAL)
Применение:
Измерение толщины покрытия
- Исследование покрытий печатных плат большого размера, в том числе гибких печатных плат (flex PCB)
- Исследование тонких проводящих и/или разделительных слоев печатных плат
- Исследование покрытий трехмерных компонентов
- Исследование покрытий из хрома, например пластиковых предметов с декоративным хромированным покрытием
Анализ материалов
- Испытание ванн для нанесения гальванических покрытий
- Анализ функциональных покрытий, применяемых в сфере производства электронных изделий и в полупроводниковой отрасли
- Анализ покрытий твердых материалов, таких как CrN, TiN или TiCN
Отзывы
Отзывов пока нет.